Nota del Editor

Autores/as

DOI:

https://doi.org/10.24215/18509959.43.%25p

Palabras clave:

Nota del Editor

Resumen

Al presentar este número regular de la Revista Iberoamericana de Tecnología en Educación y Educación en Tecnología quisiera agradecer como siempre al Comité Editorial que ha colaborado en todo el proceso que conduce a tener este Número 43 a disposición de nuestros lectores.

Un agradecimiento especial para los evaluadores que han colaborado en este número que tiene 14 trabajos aceptados. Estos evaluadores, docentes e investigadores de diferentes Universidades han evaluado los trabajos en forma responsable y desinteresada. 

Para el número 43 tenemos 14 contribuciones originales quedando otros 18 trabajos ya aceptados para el Nro. Especial de Septiembre 2026 y con otros papers ya revisados/en revisión para el número regular de Diciembre 2026. Los 14 trabajos a publicar han requerido evaluar más de 35 trabajos y actualmente hay otras 53 contribuciones en evaluación para los números de 2026. Los artículos que se van aceptando se publican a modo de 'pre-view' en el sitio WEB de la Revista. En esta selección participaron 98 evaluadores, tanto miembros del Comité Editorial como especialistas de Argentina y del exterior.

Los autores de los trabajos que se publican pertenecen a 5 países, 7 Universidades de Brasil, 4 Universidades de Argentina, 5 Universidades de Méjico, 3 Universidades de Chile y 1 Universidad de Uruguay, así como  Instituciones de Ciencia y Tecnología  de diferentes países vinculados con la temática de la Revista.

Descargas

Los datos de descarga aún no están disponibles.

Referencias

[1] Revista Iberoamericana de Tecnología en Educación y Educación en Tecnología (TE&ET), no. 43, enero–junio 2026. La Plata, Argentina: Facultad de Informática, Universidad Nacional de La Plata, 2026. ISSN 1850-9959. [En línea]. Disponible: https://teyet-revista.info.unlp.edu.ar/TEyET/

Descargas

Publicado

2026-07-17

Número

Sección

Nota del Editor

Cómo citar

[1]
“Nota del Editor”, TEyET, no. 43, p. e0, Jul. 2026, doi: 10.24215/18509959.43.%p.

Artículos más leídos del mismo autor/a

1 2 > >>